北京GB/T17626.3-2023射频电磁场辐射抗扰度试验检测报告
发布时间:2024-12-29
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试验目的:该标准旨在建立电气电子设备受到射频电磁场辐射时的抗扰度评定依据,确保设备在受到外部电磁干扰时仍能保持正常功能。
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试验等级和程序:规定了试验等级和必要的试验程序,以评估设备或系统对来自非邻近受试设备(EUT)的射频源的射频电磁场的抗扰度符合性方法。
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试验环境:试验环境在标准第6章中有明确规定,包括对试验场地、设备布置和测试频率范围的具体要求。
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试验方法:描述了评估设备或系统对射频电磁场的抗扰度符合性的方法,包括对受试设备(EUT)的放置、天线位置、测试频率和测试水平等关键参数的规定。
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特殊考虑:对于特定类型产品(如便携式电子设备)进行特殊考虑的需求,在某些情况下可能需要采用不同于常规的方法。
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试验频率范围:标准规定了具体的频率范围,通常覆盖从80MHz到2000MHz的频段,这是电磁兼容测试中常见的射频干扰频率范围。
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试验场强:规定了试验中使用的射频电磁场的场强水平,以确保测试的一致性和可重复性。
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性能判据:标准中还包含了性能判据,即在试验过程中用以评估设备是否满足抗扰度要求的标准。
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替代标准:GB/T 17626.3-2023代替了之前的GB/T 17626.3-2016标准,更新了试验方法和要求,以符合最新的技术发展和国际标准IEC 61000-4-3:2020。
试验项目共同构成了GB/T 17626.3-2023标准的核心内容,用于确保电子设备在射频电磁场辐射环境下的电磁兼容性能。
检测试验找彭工136-9109-3503。