培养箱做GB/T18268.1-2010电磁兼容测试,CNAS检测报告
发布时间:2024-02-20
北京第三方EMC电磁兼容测试实验室,专业为您提供产品电磁兼容测试服务,依据GB/T 18268.1-2010,GB/T18268.26检测标准进行电磁兼容测试服务,出具的检测报告检测报告: 属于第三方检测报告,CNAS机构测试报告 这是一个电磁兼容产品测试标准,检测机构可以按照GB/T 18268.1-2010对产品进行电磁兼容测试服务,提供符合标准要求的电磁兼容检测项目技术服务。
测试项目涵盖:
1、外壳端口电磁兼容抗干扰能力测试项目涵盖:
静电放电(ESD):基础标准GB/T17626.2,空气放电2kV,4kV,8kV,接触放电2kV,4kV;
辐射电磁场:基础标准GB/T17626.3,试验场强3V/M,80MHz-2.0GHz;
额定工频磁场:基础标准GB/T17626.8,磁场强度3A/m,50/60Hz;
2、交流电源端口电磁兼容抗干扰能力测试项目涵盖:
电压暂降:基础标准GB/T17626.11,1周期,0%;5/6周期 40%;25/30周期 70%;
电压中断:基础标准GB/T17626.11,5%;持续时间:250/300周期 ;
脉冲群:基础标准GB/T17626.4,1kV(5/50ns,5kHz);
浪涌试验:基础标准GB/T17626.5,线对地2kV,线对线1kV;
射频传导:基础标准GB/T17626.6,试验电压3V,频率150kHz~80MHz;
3、直流电源端口电磁兼容抗干扰能力测试项目涵盖:
脉冲群:基础标准GB/T17626.4,1kV(5/50ns,5kHz);
浪涌试验:基础标准GB/T17626.5,线对地2kV,线对线1kV;
射频传导:基础标准GB/T17626.6,试验电压3V,频率150kHz~80MHz;
I/O信号端口电磁兼容抗干扰能力测试项目涵盖:
脉冲群:基础标准GB/T17626.4,0.5kV(5/50ns,5kHz);
浪涌试验:无。
射频传导:基础标准GB/T17626.6,试验电压3V,频率150kHz~80MHz。
4、接主电源的I/O信号端电磁兼容抗干扰能力测试项目涵盖:
脉冲群:基础标准GB/T17626.4,1kV(5/50ns,5kHz);
浪涌试验:无;
射频传导:基础标准GB/T17626.6,试验电压3V,频率150kHz~80MHz。
5、电磁干扰EMI测试项目涵盖:
辐射发射试验,传导发射试验等。
受试设备依据检测标准测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求 第 1 部分:通用要求 GB/T 18268.1-2010,测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求 第 1 部分:通用要求 IEC 61326-1:2005;测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第 26 部分:特殊要求 体外诊断(IVD)医疗设备 GB/T 18268.26-2010;测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第 1 部分:通用要求 EN 61326-1:2013进行测试,测试通过后,可出具国家承认的中文检测报告或英文检测报告。
检测试验找彭工136-9109-3503。