平均无故障间隔时间可靠性试验（MTBF）是研究产品寿命特征的方法，这种方法可在实验室模拟各种使用条件来进行。它是将产品放在特定的试验条件下考察其失效（损坏）随时间变化规律。通常对于可修复（能修复、值得修复、有修复价值）的产品采用。可修复的产品在寿命周期内可以发生多次故障，每次故障修复后可继续使用。电子设备是最典型的可修复产品，几乎所有组成层级较高的产品和大系统均具有可修复性，因此，MTBF使用最为广泛。

平均无故障时间中的“时间”如何理解？

平均无故障时间，这个时间指的是所有受试设备的累积相关试验时间。时间可置换为距离、循环次数或其他适用于受试设备的量或单位。失效数是指试验过程中出现的累积相关失效数。具体的可靠性试验应对可以计入的相关试验时间及相关失效数加以明确的规定。

经常看到很多重点研发计划的任务书中要求项目申报过程中需要提供可靠性平均无故障间隔时间MTBF≥5000小时的第三方测试报告，受试产品的数量仅有1台，要求需要提供带CNAS和CMA资质的检测报告。

在这种情况下，无论是用定时截尾或序贯截尾的试验方案，都是不可取，为何呢？因为测试的周期太长，例如GB/T5080.7定时截尾5：4方案，需要实际测试5500小时，需要做半年多，测试成本也不菲，需要五六十万，或许这台产品本身的售价可能都没这么多，显然，这种方式是不经济不实惠的。这种情况下，只有采用加速寿命的方法来实现，通过加大环境应力在短时间内激发产品存在的固有故障，采用标准GB/T34986-2017产品加速试验方法进行测试。

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